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          噪声测试

          首页 产品与技术 测试系统

          9812DX

          低频噪声测试系统

          低频噪声测试 1/f & RTN噪声 高精度宽带测试

          9812DX作为单一完整的低频噪声测试系统,支持多种半导体器件类型在各种工作条件下(如200V高压、10pA极低电流等)的高精度噪声测试。通过低频噪声测试,可以帮助芯片制造厂检测和排除工艺制造缺陷,确保芯片质量符合预期,提高芯片稳定性。

          • 晶圆级噪声测试精度和高测试带宽,最低测试噪声的电流精度低至10-27A2/Hz。

          • 典型噪声测试速度提高至一个偏置条件仅需20s、最高测试电压提高到200V。

          • 通过并行测试架构解决方案以及协同FS-Pro半导体参数测试系统等方式大幅度提高测试效率和吞吐量。

          • 用于28/14/10/7/5/3nm等各工艺节点的先进工艺研发和高端集成电路设计。

          • 内置功能强大的NoiseProPlus软件,支持1/f噪声、RTN噪声测试和数据分析。






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          产品亮点

          • 行业黄金标准

            全球半导体行业
            低频噪声测试“黄金标准”系统

          • 广泛采用

            已被众多行业领先半导体公司所采用的
            标准测试系统

          • 并行测试

            经头部客户验证的
            高精度、高测试吞吐率并行测试能力

          • 宽量程

            晶圆级高精度和测试带宽
            宽电压、宽电流、宽阻抗测量范围

          • 系统架构

            系统体系架构经行业认可并不断完善
            兼具高精度和可靠性

          • 覆盖广泛

            同时覆盖从10Ω到10MΩ的
            高阻抗器件和低阻抗器件测试能力

          产品应用

          • 先进工艺质量/工艺
            评估和品质监控

          • 低频噪声特性测试
            和噪声数据分析

          • 半导体器件
            SPICE模型库开发

          • 高端集成电路
            设计和验证

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